XDS・NIR

XDSマスターラボTM、Pittconにて発表

XDSマスターラボは自動連続計測モデルです。
サンプリングメカニズム(X-Y方向)がプログラムされた順にトレー上のサンプルを反射又は透過測定モードにて自動分析します。 単一サンプルでの測定にはセンタリングアイリスが対応します。
粗粒サンプルセルとの組み合わせでは微粉末から粗粒状原料、ペレット及びフレークまでの全ての固体サンプル計測に対応します。
XDSマスターラボは製薬における固形剤の全ての形態:多層、コーティング、あるいはコア錠剤、カプセル、ジェルタブ、そしてジェルキャップなど、の分析をカバーします。錠剤透過測定モードは表面ではなく錠剤の全体を計測しています。自動連続計測で透過測定が不要な場合はマルチバイアルアナライザーが対応致します。XDSアナライザーは各種モジュールとの組み合わせでそれぞれ専用機として用いられる事を特徴としています。単一サンプル、粒状サンプル測定にはRCAモデル、液体測定専用はRLAモデル、そして原料検査用にはスマートプローブアナライザーとして、それぞれ用いる事が出来ます。
RCAモデルはマルチバイアルにグレードアップが可能です。

XDSマスターラボ

各モジュールの組み合わせにより以下の計器としてラインナップされています。

▲ページトップへ

お問合せ

その他近赤外分析装置に関してのお問合せ、またはご相談、ご不明な点ございましたら、以下よりお気軽にお問合せ下さい。

近赤外分析装置に関するお問合せ

▲ページトップへ